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超声波探伤时影响缺陷定位的主要因素

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超声波探伤时影响缺陷定位的主要因素

发布日期:2019-06-21 作者:江苏赛福探伤设备制造有限公司 点击:

下面荧光磁粉探伤机小编给大家介绍下超声波探伤机时影响缺陷定位的主要因素

1.超声波探伤仪的影响:水平线性、水平刻度精度。

2.超声波探头:主声束偏向,探头波束双峰,斜探头斜楔磨损使K值变化,探头晶片发射、接收声波指向性。

3.被测工件影响:

a.表面粗糙:表面凹凸不平引起进入工件声束分叉;

曲轴专用荧光磁粉探伤检测线

b.工件材质:材质晶粒引起林状反射,即材料噪声,试块与工件材质差异,引起声速变化,试块与工件应力差异,引起声速变化使K值变。压力应力声速增加,拉应力声速减小每1kg/mm2引起0.01%;

c.工件表面形状:曲面工件探伤时探头平面时为点或线接触探头磨成曲面,使入射点改变,从而引起K值变化;

d.工件边界:靠工件边界探测时,由于侧壁干扰,使主声束偏向,改变K值;

e.工件温度:工件温度升高K值增大,工件温度下降K值变小;

f.工件中缺陷:缺陷反射指向性引起不在主声束入射缺陷时出现高反射,引起误判;

4.操作人员影响

a.调试超声波探伤仪扫描线比例不准。

b.测量超声波探头入射值,K值不准。

c.定位方法不当:曲面工件未修正等。

以上就是通用磁粉探伤机小编给大家介绍的相关内容,希望对大家有所帮助。

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